從iData首款Windows Mobile系列終端到Android系列終端,以及即將推出的更高性能、全新設(shè)計(jì)的系列新品……iData任性地堅(jiān)守著“高性能、高可靠,源自iData”的品牌理念,始終專注于為用戶提供最好的移動(dòng)物聯(lián)終端產(chǎn)品。
那么,高性能、高可靠的iData產(chǎn)品到底是如何煉成的?下面就讓我們來見證iData產(chǎn)品的一系列專業(yè)、可靠的性能測試!
高低溫測試
模擬iData設(shè)備在低溫(-20℃)和高溫(60℃)環(huán)境下,檢測產(chǎn)品依然能夠正常工作和維護(hù)。
自由跌落測試
從1.5米高度對iData設(shè)備進(jìn)行6面各3次的自由跌落測試,檢測設(shè)備的抗摔性能和結(jié)構(gòu)合理性。
滾筒微跌落測試
iData產(chǎn)品在1250px的滾筒箱,旋轉(zhuǎn)100圈的微跌落實(shí)驗(yàn),檢測設(shè)備的外殼耐磨性和結(jié)構(gòu)合理性。
按鍵測試和拔插測試
iData產(chǎn)品的高品質(zhì)基因源于對材料的嚴(yán)格篩選,所有按鍵的打擊和所有的接口的插拔都會(huì)通過壽命極限測試。
按鍵測試——對產(chǎn)品主按鍵進(jìn)行50萬次,側(cè)按鍵5萬次打擊測試
拔插測試——將設(shè)備插孔與連接插針進(jìn)行5000次插拔測試
ESD防靜電測試
對iData產(chǎn)品進(jìn)行靜電放電,采用靜電高壓測試儀進(jìn)行接觸和間隙測試,確保干燥環(huán)境下靜電對設(shè)備性能無任何影響。
機(jī)殼壓力測試
對iData設(shè)備采用20kg的壓力按壓200次,產(chǎn)品外觀無變形、無異常,功能正常。
電池性能測試
對電池進(jìn)行綜合參數(shù)測試,確保電池性能穩(wěn)定。
iData全系產(chǎn)品同時(shí)要經(jīng)過權(quán)威檢測機(jī)構(gòu)的多項(xiàng)資質(zhì)認(rèn)證。
微波暗室OTA測試
為了使iData產(chǎn)品有良好的無線通信性能,我們通過在微波暗室進(jìn)行OTA測試,檢測產(chǎn)品的通信輻射接收性能數(shù)據(jù)。
通信性能射頻傳導(dǎo)測試 TRP總發(fā)射功率/TIS接收靈敏度測試
EMC(Electro Magnetic Compatibility)電磁兼容測試
EMC主要分為電磁騷擾測試和電磁抗擾度測試,iData產(chǎn)品在研發(fā)及定型階段都會(huì)委托國內(nèi)一流的專業(yè)測試機(jī)構(gòu)進(jìn)行測試,以保證設(shè)備達(dá)到優(yōu)秀的電磁兼容性能。
1. EMI(Electro-Magnetic Interference)---電磁騷擾測試
電磁騷擾測試主要用于檢測iData設(shè)備所產(chǎn)生的電磁輻射對人體、公共電網(wǎng)以及其他正常工作之電器產(chǎn)品的影響。
輻射騷擾測試(高/低頻段)
2.EMS(Electro-Magnetic Susceptibility)--電磁抗擾度測試
電磁抗擾度測試可以檢測設(shè)備能否在電磁環(huán)境中穩(wěn)定工作,以確保iData產(chǎn)品在各種電磁環(huán)境中使用不受影響。
射頻電磁場輻射抗擾度測試
SAR(Specific Absorption Rate)測試
為了將電磁波輻射降低至一個(gè)合適的水平,iData每款產(chǎn)品還會(huì)進(jìn)行SAR測試。
iData產(chǎn)品多個(gè)方位的SAR測試
每一臺(tái)iData 設(shè)備,都能經(jīng)受專業(yè)嚴(yán)酷的測試:防水防塵、耐高溫、耐沖擊、耐磨損,耐百萬次敲擊……
iData新一代移動(dòng)物聯(lián)終端廣泛應(yīng)用于移動(dòng)醫(yī)療、零售、服裝、物流、抄表、倉儲(chǔ)、食品安全追溯、執(zhí)法等各行業(yè)企業(yè)級(jí)移動(dòng)應(yīng)用領(lǐng)域,幫助海內(nèi)外企業(yè)低成本快速實(shí)現(xiàn)移動(dòng)作業(yè),提升管理效益,提高生產(chǎn)力,獲取更高的投資回報(bào)。歡迎咨詢www.szlcmy.cn或020-87030040。